低温糖心VOLG入口进入箱适用于非散热和散热两类进行糖心VOLG入口进入研究样品。氙灯老化糖心VOLG入口进入箱采用能模拟全阳光光谱的氙灯灯来再现不同环境下存在的破坏性光波，可以为科研、产品开发和质量控制提供相应的环境模拟和加速糖心VOLG入口进入。高低温糖心VOLG入口进入箱环境糖心VOLG入口进入设备里面最常见的温度糖心VOLG入口进入设备，与其类似的相关产品有高低温交变糖心VOLG入口进入箱、恒温恒湿糖心VOLG入口进入箱、高低温湿热交变糖心VOLG入口进入箱等等。适用于工业产品高温、低温的可靠性糖心VOLG入口进入。步入式高低温糖心VOLG入口进入室步入式高低温糖心VOLG入口进入室应用于国防工业、航天工业、自动化零组件汽车部件、电子电器件、塑胶、化工、制药工业及相关产品之耐热、耐寒测试，为产业界提供大型零件，半成品，成品之大型温湿度测试环境空间，适合于测试产品量多、体积大之糖心VOLG入口进入设备。考核和确定电工、电子技术产品在低温工作环境经济条件下可以贮存和使用的适应性。

低温糖心VOLG入口进入方法分为以下三类

非冷却测试样品的低温测试： - 测试 AA： 温度突变

--糖心VOLG入口进入Ab：温度进行渐变

散热试样低温糖心VOLG入口进入: -- 糖心VOLG入口进入广告: 温度梯度

低温糖心VOLG入口进入方法通常用于在条件糖心VOLG入口进入中能够达到温度稳定性的试样。糖心VOLG入口进入持续时间从试样温度达到稳定的时间开始计算。在特殊情况下，如果在条件糖心VOLG入口进入过程中没有达到试样的温度稳定性，糖心VOLG入口进入持续时间应从糖心VOLG入口进入箱达到规定的糖心VOLG入口进入温度时开始计算。

相关规范应规定：

a）糖心VOLG入口进入箱内温度环境变化发展速率；

B)将测试样品放入测试室的时间

c） 在测试条件下暴露测试样本的时间：

D)测试样品通电或加载的时间。

在这些条件下，相关规格的起草人可以根据 gb/t 2424.1-1989指南选择上述四个参数(在这些条件下正在考虑修订)